Спосіб дослідження мікроструктури поверхні імплантатів
Ескіз недоступний
Дата
2018-06
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
ДП “Український інститут інтелектуальної власності”
Анотація
Спосіб дослідження мікроструктури поверхні імплантатів за допомогою мікроскопу ПМТ-3, який забеспечує вивчення ступеня розвиненості рельєфу поверхні імплантату. Даний пристрій має первинне значення і пов'язане з дослідженням визначення оптимальних параметрів мікроструктури імплантату, що має велике значення для остеоінтеграції. Мікроскоп ПМТ-3, забеспечує вивчення ступеня розвиненості рельєфу поверхні імплантату.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Пат. 126576 Україна, МПК A 61 C 19/00, A 61C 8/00 (2018.01). Спосіб дослідження мікроструктури поверхні імплантатів / А. С. Єфименко, Д. М. Король, Г. А. Бялік, М. Д. Король ; заявники та патентовласники : А. С. Єфименко, Д. М. Король, Г. А. Бялік, М. Д. Король. – № u201800788 ; заявл. 29.01.2018 ; опубл. 25.06.2018, Бюл. № 12.